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微束分析 電子探針顯微分析X射線能譜儀主要性能參數及核查方法 現行

Microbeam analysis—Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy dispersive X-ray spectrometers for use in electron probe microanalysis

標準號：GB/T 20726-2015

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基本信息

標準號：GB/T 20726-2015
發布時間：2015-10-09
實施時間：2016-09-01
首發日期：
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：曾榮樹、徐文東、毛騫、馬玉光。
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 基礎標準與通用方法
ICS分類：有關化學分析方法的其他標準
提出單位：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)
起草單位：中國科學院地質與地球物理研究所。
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)

標準簡介

本標準規定了表征以半導體探測器、前置放大器和信號處理系統為基本構成的X-射線能譜儀（EDS）特性最重要的性能參數。本標準僅適用基于固態電離原理的半導體探測器能譜儀。本標準規定了與掃描電鏡（SEM）或電子探針（EPMA）聯用的EDS性能參數的最低要求以及核查方法。至于實際分析過程，在ISO 22309和 ASTM E1508 中已有規范，不在本標準范圍之內。

標準摘要

本標準按照GB/T1.1—2009給出的規則起草。
本標準代替GB/T20726—2006《半導體探測器X射線能譜儀通則》。
本標準與GB/T20726—2006相比,主要變化如下:
———中文名稱修改為:微束分析 電子探針顯微分析X射線能譜儀主要性能參數及核查方法;
———增加了部分術語和定義(見3.2、3.2.1、3.2.2、3.3~3.5、3.12、3.13);
———修改了部分術語和定義(見3.8~3.11,2006年版2.4~2.7);
———刪除了儀器本底的術語和定義(見2006年版2.8);
———增加了第五章:“其他性能參數的核查”(見第5章);
———增加有助于理解本標準的必要的參考文獻(見參考文獻)。
與本標準中規范性引用的國際文件有一致性對應關系的我國文件如下:
———GB/T21636—2008 微束分析 電子探針顯微分析(EPMA) 術語(ISO23833:2006,IDT)。
本標準由全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC38)提出并歸口。
本標準主要起草單位:中國科學院地質與地球物理研究所。
本標準主要起草人:曾榮樹、徐文東、毛騫、馬玉光。
本標準于2007年8月1日首次發布,本次為第一次修訂。

替代情況

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引用標準

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本標準相關公告

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采標情況

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