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染色體異常檢測基因芯片通用技術要求
染色體異常檢測基因芯片通用技術要求 現行
General technical requirement for chromosomal abnormality detection microarray
標準號：GB/T 35533-2017
基本信息
標準號：GB/T 35533-2017
發布時間：2017-12-29
實施時間：2018-07-01
首發日期：
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：孫義民、郭弘妍、王輝、王亞輝、鄧濤、許俊泉、張川、單萬水、王晶、喬杰、邢婉麗、程京
出版機構：中國標準出版社
提出單位：全國生物芯片標準化技術委員會(SAC/TC 421)
起草單位：博奧生物集團有限公司、清華大學、北京大學第三醫院、中國計量科學研究院、北京博奧晶典生物科技有限公司、北京博奧醫學檢驗所有限公司、深圳市第三人民醫院
歸口單位：全國生物芯片標準化技術委員會(SAC/TC 421)
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會
主管部門：國家標準化管理委員會
標準簡介
本標準規定了染色體異常檢測基因芯片的術語和定義、檢測樣品、產品聲明、芯片要求、結果報告、檢測服務認可等要求。本標準適用于人體染色體異常檢測基因芯片產品及服務。
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