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納米材料晶粒尺寸及微觀應(yīng)變的測定 X射線衍射線寬化法 現(xiàn)行

Determination of crystallite size and micro-strain of nano-materials—X-ray diffraction line broadening method

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 23413-2009

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 23413-2009
發(fā)布時(shí)間：2009-04-01
實(shí)施時(shí)間：2009-12-01
首發(fā)日期：2009-04-01
出版單位：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：方建鋒、鄭毅、李琪、張晉遠(yuǎn)、柳春蘭、朱瑞珍
出版機(jī)構(gòu)：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： X射線、磁粉、熒光及其他探傷儀器
ICS分類：無損檢測
提出單位：全國微束標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
起草單位：鋼鐵研究總院、首鋼技術(shù)研究院
歸口單位：全國微束標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
發(fā)布部門：中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
主管部門：國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

標(biāo)準(zhǔn)簡介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了利用X射線衍射線寬化法來測定納米材料晶粒尺寸和微觀應(yīng)變的方法。本標(biāo)準(zhǔn)采用的計(jì)算方法是近似函數(shù)法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于測定晶粒尺寸一般不大于100nm，微觀應(yīng)變一般不大于0.1%的納米材料。

標(biāo)準(zhǔn)摘要

本標(biāo)準(zhǔn)的附錄Ａ 為規(guī)范性附錄。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國微束標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提出并歸口。
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：鋼鐵研究總院、首鋼技術(shù)研究院。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：方建鋒、鄭毅、李琪、張晉遠(yuǎn)、柳春蘭、朱瑞珍。

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