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識別卡 測試方法 第7部分：鄰近式卡 現行

Identification cards—Test methods—Part 7:Vicinity cards

標準號：GB/T 17554.7-2010

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基本信息

標準號：GB/T 17554.7-2010
發布時間：2010-12-01
實施時間：2011-04-01
首發日期：2010-12-01
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：馮敬、高林、袁理、金倩、黃小鵬、耿力、趙子淵
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 數據媒體
ICS分類：識別卡和有關裝置
提出單位：全國信息技術標準化技術委員會(SAC/TC 28)
起草單位：中國電子技術標準化研究所、東信和平智能卡股份有限公司
歸口單位：全國信息技術標準化技術委員會(SAC/TC 28)
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：全國信息技術標準化技術委員會(SAC/TC 28)

標準簡介

GB/T17554規定了符合GB/T14916識別卡特性的測試方法。每一測試方法交叉引用一個或多個基礎標準,這些基礎標準可以是GB/T14916或一個或多個定義了用于識別卡應用的信息存儲技術的補充標準。GB/T17554的本部分規定了無觸點集成電路卡技術(鄰近式卡)的測試方法。第1部分規定了為一種或多種卡技術所共用的測試方法;其他部分則規定了各個專項技術的測試方法。除非另有規定,本部分中的測試僅適用于GB/T22351.1和GB/T22351.2中定義的鄰近式卡。

標準摘要

GB/T17554在《識別卡 測試方法》總標題下,目前分為如下7個部分:
———第1部分:一般特性測試;
———第2部分:磁條卡;
———第3部分:帶觸點的集成電路卡及其相關接口設備;
———第4部分:無觸點集成電路卡;
———第5部分:光記憶卡;
———第6部分:接近式卡;
———第7部分:鄰近式卡。
本部分為GB/T17554的第7部分。本部分使用重新起草法,修改采用國際標準ISO/IEC10373-7:2008《識別卡 測試方法 第7部分:鄰近式卡》(英文版)。
本部分與ISO/IEC10373-7:2008相比,增加和修改了下列內容,并在相應條款的外側頁邊空白處用單垂線標示:
a) 為了使標準更加清晰易懂,增加了縮略語PCB;
b) 為了便于引用,8.1.2做了編輯性修改;
c) 為了避免實際應用中可能出現在規定的工作區域內VICC不能正常工作的情況,增加第9章工作場強測試。
本部分的附錄A、附錄C和附錄D是規范性附錄。
本部分的附錄B、附錄E和附錄F是資料性附錄。
本部分由全國信息技術標準化技術委員會(SAC/TC28)提出并歸口。
本部分起草單位:中國電子技術標準化研究所、東信和平智能卡股份有限公司。
本部分主要起草人:馮敬、高林、袁理、金倩、黃小鵬、耿力、趙子淵。

標準目錄

前言 Ⅰ
1 范圍 1
2 規范性引用文件 1
3 術語和定義、縮略語和符號 1
4 適用于測試方法的默認條款 2
5 靜電測試 2
6 測試裝置和測試電路 3
7 VICC的功能測試 6
8 VCD的功能測試 7
9 VICC的工作場強測試 8
附錄A (規范性附錄) 測試VCD天線 9
附錄B(資料性附錄) 測試VCD天線調諧 11
附錄C (規范性附錄) 傳感線圈 13
附錄D (規范性附錄) 用于VCD功率測試的參考VICC 15
附錄E (資料性附錄) 用于負載調制測試的參考VICC 17
附錄F(資料性附錄) 頻譜計算程序 18

替代情況

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引用標準

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本標準相關公告

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采標情況

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