微束分析 電子探針顯微分析 塊狀試樣波譜法定量點分析 現行
Microbeam analysis—Electron probe microanalysis—Quantitative point analysis for bulk specimen using wavelength dispersive X-ray spectroscopy
標準號：GB/T 28634-2012
基本信息
標準號：GB/T 28634-2012
發布時間：2012-07-31
實施時間：2013-02-01
首發日期：
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：曾毅、李香庭、吳偉
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 電化學、熱化學、光學式分析儀器
ICS分類：有關化學分析方法的其他標準
提出單位：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)
起草單位：中國科學院上海硅酸鹽研究所
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)
標準簡介
本標準規定了應用電子探針或者掃描電鏡(SEM)的波譜儀(WDS),通過電子束與試樣相互作用產生的X射線對試樣微米尺度體積內的元素進行定量分析的要求。內容包括:———定量分析原理;———本方法涉及的元素、質量分數和標準物質的一般范圍;———儀器的一般要求;———有關試樣制備、實驗條件的選擇、分析測量等的基本過程及報告。本標準適用于電子束垂直入射,要求定量分析的塊狀試樣表面平滑、均勻。對儀器和數據處理軟件沒有特殊的要求。使用者應該從儀器制造廠家獲得儀器安裝條件、詳細的操作程序及儀器說明書。
標準摘要
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本標準按照GB/T1.1—2009給出的規則編寫。 本標準使用翻譯法等同采用ISO22489:2006《微束分析 電子探針顯微分析 塊狀試樣波譜法定量點分析》(英文版)。 本標準做了下列編輯性修改: 用10-6替代ppm。 本標準由全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC38)提出并歸口。 本標準主要起草單位:中國科學院上海硅酸鹽研究所。 本標準主要起草人:曾毅、李香庭、吳偉。 |
標準目錄
| 前言 Ⅰ 引言 Ⅱ 1 范圍 1 2 規范性引用文件 1 3 縮略語 1 4 定量過程 1 5 實驗報告 6 附錄A (資料性附錄) 物理效應和校正 8 附錄B(資料性附錄) 不同校正方法概述 9 附錄C (規范性附錄) 有化學效應的k 比值測量 10 參考文獻 11 |
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