當前位置：
首頁 >
紅外焦平面陣列特性參數測試技術規范
紅外焦平面陣列特性參數測試技術規范 已作廢
The technical norms for measurement and test of characteristic parameters of infrared focal plane arrays
標準號：GB/T 17444-1998
基本信息
標準號：GB/T 17444-1998
發布時間：1998-07-03
實施時間：1999-05-01
首發日期：1998-07-30
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：
作廢日期：2014-04-15
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 紅外器件
ICS分類：光電子學、激光設備
起草單位：中國科學院上海技術物理研究所
歸口單位：信息產業部（電子）
發布部門：國家質量技術監督局
主管部門：信息產業部（電子）
標準簡介
本標準所指的焦平面，是敏感紅外輻照的光敏陣列并帶有讀出電路的器件。本標準對焦平面特性參數及相關量進行了定義。本標準給出了焦平面主要特性參數的測試方法及測試條件。本標準適用于線列和面陣焦平面。
推薦檢測機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~
推薦認證機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~
推薦培訓機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~
? 2018 北京寰標偉業科技發展有限公司版權所有并保留所有權利。
ICP備案證書號：京ICP備17031081號-1 客服電話：010-62050868
