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介電晶體介電性能的試驗(yàn)方法 現(xiàn)行

Test method for dielectric properties of dielectric crystal

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 16822-1997

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 16822-1997
發(fā)布時(shí)間：1997-05-28
實(shí)施時(shí)間：1998-02-01
首發(fā)日期：1997-05-28
出版單位：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：
出版機(jī)構(gòu)：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)： 電子技術(shù)專(zhuān)用材料
ICS分類(lèi)：電子元件綜合
起草單位：中國(guó)科學(xué)院物理研究所
歸口單位：信息產(chǎn)業(yè)部（電子）
發(fā)布部門(mén)：國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
主管部門(mén)：信息產(chǎn)業(yè)部（電子）

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了介電晶體的低頻（10MHz以下)介電系數(shù)及介電損耗的試驗(yàn)方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于介電晶體的介電性能的測(cè)定。

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