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表面化學分析 X射線光電子能譜 確定本底的程序 現行

Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Procedures for determining backgrounds

標準號：GB/Z 32490-2016

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基本信息

標準號：GB/Z 32490-2016
發布時間：2016-02-24
實施時間：2017-01-01
首發日期：
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：李展平、陳建、姚文清、謝方艷、曹立禮、朱永法
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 基礎標準與通用方法
ICS分類：化學分析
提出單位：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)
起草單位：清華大學、中山大學
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)

標準簡介

本指導性技術文件給出了確定X射線光電子能譜中本底的指南。本指導性技術文件適用于固體表面X射線激發的光電子和俄歇電子能譜的本底確定。

標準摘要

本指導性技術文件按照GB/T 1.1-2009給出的規則起草。
本指導性技術文件使用翻譯法等同使用ISO/TR 18932：2005《表面化學分析 X射線光電子能譜 確定本底的程序》。
本指導性技術文件由全國微束分析標準化技術委員會（SAC/TC 38）提出并歸口。
本指導性技術文件負責起草單位：清華大學、中山大學。
本指導性技術文件主要起草人：李展平、陳建、姚文清、謝方艷、曹立禮、朱永法。

替代情況

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引用標準

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采標情況

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