一維納米材料的基本結構 高分辨透射電子顯微鏡檢測方法 現行
Fundamental structures of one dimensional nanomaterials - High resolution electron microscopy characterization
標準號：GB/Z 21738-2008
基本信息
標準號：GB/Z 21738-2008
發布時間：2008-05-08
實施時間：2008-11-01
首發日期：2008-05-08
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：李建奇
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 光學儀器綜合
ICS分類：光學和光學測量綜合
提出單位：全國納米技術標準化技術委員會納米材料分技術委員會
起草單位：中國科學院物理研究所電子顯微鏡實驗室
歸口單位：全國納米技術標準化技術委員會納米材料分技術委員會
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：中國科學院
標準簡介
本指導性技術文件規定了采用高分辨透射電子顯微鏡檢測納米材料中一維或準一維納米材料的原理、術語及定義、儀器和設備、樣品制備、測量程序、結果表示和試驗報告等內容。本指導性技術文件適用于測量一維或準一維納米材料的基本結構（形貌、排列情況、大小線度的分布、晶化情況、生長取向關系），元素組分、截面及界面原子排布等。
標準摘要
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本指導性技術文件由全國納米技術標準化技術委員會納米材料分技術委員會提出。 本指導性技術文件由全國納米技術標準化技術委員會納米材料分技術委員會歸口。 本指導性技術文件起草單位:中國科學院物理研究所電子顯微鏡實驗室。 本指導性技術文件主要起草人:李建奇。 |
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