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電子學(xué)特性測(cè)量 超導(dǎo)體在微波頻率下的表面電阻

Electronic characteristic measurements—Surface resistance of superconductors at microwave frequencies
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 22586-2018
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 22586-2018
發(fā)布時(shí)間:2018-03-15
實(shí)施時(shí)間:2018-10-01
首發(fā)日期:
出版單位:中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人:曾成、羅正祥、補(bǔ)世榮、魏斌、吉爭(zhēng)鳴、孫亮
出版機(jī)構(gòu):中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi): 金屬物理性能試驗(yàn)方法
ICS分類(lèi):金屬材料的其他試驗(yàn)方法
提出單位:中國(guó)科學(xué)院
起草單位:電子科技大學(xué)、清華大學(xué)、南京大學(xué)、中國(guó)科學(xué)院物理研究所
歸口單位:全國(guó)超導(dǎo)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 265)
發(fā)布部門(mén):中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
主管部門(mén):中國(guó)科學(xué)院
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了在微波頻率下利用雙諧振器法測(cè)試超導(dǎo)體表面電阻的方法,測(cè)試目標(biāo)是在諧振頻率下RS隨溫度的變化。
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