當前位置： 首頁 > 硅外延片

硅外延片現行

Silicon epitaxial wafers

標準號：GB/T 14139-2019

獲取原文如何獲取原文？問客服獲取原文，即可享受本標準狀態變更提醒服務！

基本信息

標準號：GB/T 14139-2019

發布時間：2019-06-04

實施時間：2020-05-01

首發日期：

出版單位：中國標準出版社查看詳情>

起草人：張海英、李慎重、蔣玉龍、駱紅、胡金枝、盧立延、李素青

出版機構：中國標準出版社

標準分類：元素半導體材料

ICS分類：半導體材料

提出單位：全國半導體設備和材料標準化技術委員會(SAC/TC 203)、全國半導體設備和材料標準化技術委員會材料分技術委員會(SAC/TC 203/SC 2)

起草單位：浙江金瑞泓科技股份有限公司、南京國盛電子有限公司、上海合晶硅材料有限公司、有色金屬技術經濟研究院、有研半導體材料有限公司

歸口單位：全國半導體設備和材料標準化技術委員會(SAC/TC 203)、全國半導體設備和材料標準化技術委員會材料分技術委員會(SAC/TC 203/SC 2)

發布部門：國家市場監督管理總局國家標準化管理委員會

主管部門：全國半導體設備和材料標準化技術委員會(SAC/TC 203)、全國半導體設備和材料標準化技術委員會材料分技術委員

標準簡介

本標準規定了硅外延片的牌號和分類、要求、試驗方法、檢驗規則、標志、包裝、運輸、貯存、質量證明書和訂貨單（或合同）內容。本標準適用于在直徑不大于150 mm的N型和P型硅拋光片襯底上生長的硅外延片。

替代情況

會員注冊/登錄后查看詳情

引用標準

會員注冊/登錄后查看詳情

本標準相關公告

會員注冊/登錄后查看詳情

采標情況

會員注冊/登錄后查看詳情

推薦檢測機構

申請入駐

暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~

推薦認證機構

申請入駐

暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~

推薦培訓機構

申請入駐

暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~

国产精品久久久在线观看_亚洲免费观看视频网站_国产盗摄视频一区二区三区_久久久国产一级 - 日本在线观看一区