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半導(dǎo)體器件 集成電路 第2部分:數(shù)字集成電路 第五篇 CMOS數(shù)字集成電路4000B和4000UB系列空白詳細(xì)規(guī)范 現(xiàn)行

Semiconductor devices --Integrated circuits --Part 2:Digital integrated circuits --Section five --Blank detail specification for complementary MOS digital integrated circuits，series 4 000B and 4 000UB

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 9424-1998

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 9424-1998
發(fā)布時(shí)間：1988-06-02
實(shí)施時(shí)間：1999-06-01
首發(fā)日期：1988-06-23
出版單位：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：
出版機(jī)構(gòu)：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 半導(dǎo)體集成電路
ICS分類：集成電路、微電子學(xué)
起草單位：電子部標(biāo)準(zhǔn)化所
歸口單位：全國(guó)半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布部門：國(guó)家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
主管部門：信息產(chǎn)業(yè)部（電子）

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

IEC電子器件質(zhì)量評(píng)定體系遵循IEC章程并在IEC授權(quán)下工作。該體系的目的是確定質(zhì)量評(píng)定程序，以這種方式使一個(gè)參加國(guó)按有關(guān)規(guī)范要求放行的電子器件無(wú)需進(jìn)一步試驗(yàn)而為其他所有參加國(guó)同樣接受。

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