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貫入法檢測砌筑砂漿抗壓強度技術規程 現行

Microbeam analysis—Analytical transmission electron microscopy—Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures

標準號：JGJ/T 136-2017

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基本信息

標準號：JGJ/T 136-2017
發布時間：2017-02-20
實施時間：2017-09-01
首發日期：
出版單位：中國建筑工業出版社查看詳情>
起草人：柳得櫓、郜欣、權茂華
出版機構：中國建筑工業出版社
標準分類： 基礎標準與通用方法
ICS分類：化學分析
提出單位：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)
起草單位：北京科技大學
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)
發布部門：中華人民共和國住房和城鄉建設部
主管部門：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)

標準簡介

本標準規定了透射電鏡（TEM）在很大放大倍率范圍內所記錄的圖像的校準方法。用于校準的標準物質具有周期性結構，例如衍射光柵復型、半導體的超點陣結構或X射線分析的分光晶體以及碳、金或硅的晶體晶格像。? 本標準適用于記錄在照相膠片上或成像板上或數字相機內置傳感器采集的 TEM圖像的放大倍率。本標準也可用于校準標尺，但不適用于專用的臨界尺寸測長透射電鏡（CD-TEM）和掃描透射電鏡（STEM）。

替代情況

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引用標準

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本標準相關公告

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采標情況

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