當前位置：
首頁 >
通信用光電子器件可靠性試驗方法
通信用光電子器件可靠性試驗方法 現行
Reliability test method for optoelectronic devices used in telecommunications
標準號：GB/T 33768-2017
基本信息
標準號：GB/T 33768-2017
發布時間：2017-05-31
實施時間：2017-12-01
首發日期：
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：趙先明、宋夢洋、江毅、龔雪、羅勇、鄧智芳、楊春、武成賓、趙文玉、陳悅
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 載波通信設備
ICS分類：光纖連接器
提出單位：中華人民共和國工業和信息化部
起草單位：武漢烽火科技集團有限公司、中興通訊股份有限公司、中國信息通信研究院、深圳新飛通光電子技術有限公司
歸口單位：工業和信息化部(通信)
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：工業和信息化部(通信)
標準簡介
本標準規定了通信用光電子器件可靠性試驗方法的術語和定義、一般要求、詳細要求，包括試驗的目的、設備、條件、程序、檢驗及失效判據。?本標準適用于通信用光電子器件，其他領域的光電子器件也可參照使用。
推薦檢測機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~
推薦認證機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~
推薦培訓機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~
? 2018 北京寰標偉業科技發展有限公司版權所有并保留所有權利。
ICP備案證書號：京ICP備17031081號-1 客服電話：010-62050868
