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OVE/ONORM EN 62047-21:2015現(xiàn)行

Semiconductor Devices - Micro-Electromechanical Devices - Part 21: Test Method For Poisson's Ratio Of Thin Film Mems Materials (Iec 62047-21:2014)

出版：Osterreichisches Normungsinstitut

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基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： OVE/ONORM EN 62047-21:2015
發(fā)布時(shí)間：2015/6/1 0:00:00
標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)別：Standard
出版單位：Osterreichisches Normungsinstitut
標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：18
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

2015 [01/06/2015]

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