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NEN IEC 60747-8:2011現(xiàn)行
Semiconductor Devices - Discrete Devices - Part 8: Field-Effect Transistors
出版：Nederlands Normalisatie Instituut
專家解讀視頻
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號： NEN IEC 60747-8:2011
發(fā)布時間：2011/1/1 0:00:00
標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard
出版單位：Nederlands Normalisatie Instituut
標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：78
標(biāo)準(zhǔn)簡介
Provides standards for the following categories of field-effect transistors: - type A: junction-gate type; - type B: insulated-gate depletion (normally on) type; - type C: insulated-gate enhancement (normally off) type.
標(biāo)準(zhǔn)備注
Supersedes NEN 10747-8. (11/2001)
本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)
