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ASTM F980-10e1被替代

Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices

出版：American Society for Testing and Materials

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基本信息
標準編號： ASTM F980-10e1
發(fā)布時間：2010/12/1 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：American Society for Testing and Materials
標準頁數(shù)：7
本標準替代的舊標準

ASTM F980-10

替代本標準的新標準

ASTM F980-16