BS EN 62215-3:2013現(xiàn)行

Integrated Circuits - Measurement Of Impulse Immunity - Part 3: Non-Synchronous Transient Injection Method

出版：British Standards Institution

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： BS EN 62215-3:2013

發(fā)布時(shí)間：2013/10/31 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：British Standards Institution

標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：36

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

Defines a method for measuring the immunity of an integrated circuit (IC) to standardized conducted electrical transient disturbances.

標(biāo)準(zhǔn)備注

Supersedes 10/30209944 DC. (10/2013)

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

10/30209944 DC : 0

等同采用的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

IEC 62215-3 : 1ED 2013 - Identical

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