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ISO 25498:2018現(xiàn)行

Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Selected area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope

出版：International Organization for Standardization

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基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： ISO 25498:2018
發(fā)布時(shí)間：2018/3/16 0:00:00
標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard
出版單位：International Organization for Standardization
標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：38
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

Describes the method of selected area electron diffraction (SAED) analysis using a transmission electron microscope (TEM) to analyse thin crystalline specimens.

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ISO 25498:2010

ISO/FDIS 25498

ISO 25498 : 2010

等同采用的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

BS ISO 25498 : 2010 - Identical