DIN EN 60749-44 (2017-04)現行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 44: Neutron Beam Irradiated Single Event Effect (see) Test Method For Semiconductor Devices (iec 60749-44:2016)
出版：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)
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基本信息
標準編號： DIN EN 60749-44 (2017-04)
發布時間：2017/4/1 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)
標準頁數：22
標準簡介
2017 [01/04/2017]DRAFT 2014 [01/08/2014]
本標準替代的舊標準
等同采用的國際標準
EN 60749-44:2016 - Identical
