IEC 60749-6 Ed. 2.0現行

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 6: Storage at high temperature

出版：International Electrotechnical Committee

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基本信息

標準編號： IEC 60749-6 Ed. 2.0

發布時間：2017/3/3 0:00:00

標準類別：Standard

出版單位：International Electrotechnical Committee

標準頁數：12

標準簡介

Aims to test and determine the effect on all solid state electronic devices of storage at elevated temperature without electrical stress applied.

本標準替代的舊標準

IEC 60749-6 Ed. 1.0

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