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I.S. EN 60749-4:2017現(xiàn)行

Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods Part 4: Damp Heat, Steady State, Highly Accelerated Stress Test (hast)

出版：National Standards Authority of Ireland

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基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號： I.S. EN 60749-4:2017
發(fā)布時間：2017/7/4 0:00:00
標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard
出版單位：National Standards Authority of Ireland
標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：24
標(biāo)準(zhǔn)簡介

Gives a highly accelerated temperature and humidity stress test (HAST) for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged semiconductor devices in humid environments.

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

I.S. EN 60749-4:2002

等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

DIN EN 60749-4 : 2016 - Identical

BS EN 60749-4 : 2017 - Identical

BS EN 60749-4 : 2002 - Identical

EN 60749-4 : 2017 - Identical

NF EN 60749-4 : 2002 - Identical

DIN EN 60749-4 : 2016 - Identical

NBN EN 60749-4 : 2003 - Identical

UNE EN 60749-4 : 2003 - Identical

EN 60749-4:2017 - Identical

BS EN 60749-4:2017 - Identical