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KS C IEC 62047-18:2016廢止

Semiconductor devices ― Micro-electromechanical devices ― Part 18: Bend testing methods of thin film materials

出版：Korean Standards Association

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基本信息

標準編號： KS C IEC 62047-18:2016

發布時間：2016/12/29 0:00:00

標準類別：Standard

出版單位：Korean Standards Association

標準頁數：12

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