IEC/TR 63133 Ed. 1.0現行

Semiconductor devices - Scan based ageing level estimation for semiconductor devices

出版：International Electrotechnical Committee

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基本信息

標準編號： IEC/TR 63133 Ed. 1.0

發布時間：2017/10/11 0:00:00

標準類別：TechnicalReport

出版單位：International Electrotechnical Committee

標準頁數：22

標準簡介

Describes a design technique of performance estimation storage element, which can monitor semiconductor ageing and characterize ageing level.

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