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KS C IEC 60749-34:2017廢止

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34:Power cycling

出版：Korean Standards Association

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基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： KS C IEC 60749-34:2017
發(fā)布時(shí)間：2017/5/30 0:00:00
標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard
出版單位：Korean Standards Association
標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：9