DIN EN 62878-1-1 (2016-03)現行

Device Embedded Substrate - Part 1-1: Generic Specification - Test Methods (iec 62878-1-1:2015)

出版：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

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基本信息

標準編號： DIN EN 62878-1-1 (2016-03)

發布時間：2016/3/1 0:00:00

標準類別：Standard

出版單位：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

標準頁數：57

標準簡介

2016 [01/03/2016]

標準備注

Supersedes DIN EN 62326-18. (04/2016)

本標準替代的舊標準

DIN EN 62326-18 (2013-07)

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