IEEE C37.26:2014現(xiàn)行

Guide For Methods Of Power-Factor Measurement For Low-Voltage (1000 V Ac Or Lower) Inductive Test Circuits

出版：Institute of Electrical and Electronics Engineers

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號： IEEE C37.26:2014

發(fā)布時間：2014/10/3 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：Institute of Electrical and Electronics Engineers

標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：24

標(biāo)準(zhǔn)簡介

Specifies three methods used in the measurement of the power factor of inductive low-voltage (1000 V and lower) test circuits.

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

IEEE C37.26:2003 (R2009)

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