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DS EN 62417:2010現行

Semiconductor Devices - Mobile Ion Tests For Metal-Oxide Semiconductor Field Effect Transistors (Mosfets)

出版：Danish Standards

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基本信息
標準編號： DS EN 62417:2010
發布時間：2010/7/19 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：Danish Standards
標準頁數：16
標準簡介

Specifies a wafer level test procedure to determine the amount of positive mobile charge in oxide layers in metal-oxide semiconductor field effect transistors.