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PD IEC TS 62132-9:2014現行

Integrated Circuits - Measurement Of Electromagnetic Immunity - Part 9: Measurement Of Radiated Immunity - Surface Scan Method

出版：British Standards Institution

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基本信息
標準編號： PD IEC TS 62132-9:2014
發布時間：2014/9/30 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：British Standards Institution
標準頁數：0
標準簡介

Gives a test procedure, which defines a method for evaluating the effect of near electric, magnetic or electromagnetic field components on an integrated circuit (IC).