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KS C IEC 60749-42:2016廢止

Semiconductor devices ― Mechanical and climatic test methods ― Part 42: Temperature and humidity storage

出版：Korean Standards Association

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： KS C IEC 60749-42:2016

發(fā)布時(shí)間：2016/12/29 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)別：Standard

出版單位：Korean Standards Association

標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：7