DIN EN 62416 (2010-12)現(xiàn)行

Semiconductor Devices - Hot Carrier Test On Mos Transistors

出版：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號： DIN EN 62416 (2010-12)

發(fā)布時間：2010/12/1 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：12

標(biāo)準(zhǔn)簡介

2010 [01/12/2010]

標(biāo)準(zhǔn)備注

Supersedes DIN IEC 62416. (12/2010)

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

DIN IEC 62416 (2007-08)

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