EIA JESD 22-A100:2013現(xiàn)行
Cycled Temperature-Humidity-Bias Life Test
出版：Joint Electronics Device Engineering Council (JEDEC)
專家解讀視頻
基本信息
標準編號： EIA JESD 22-A100:2013
發(fā)布時間：2013/7/1 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：Joint Electronics Device Engineering Council (JEDEC)
標準頁數(shù)：12
標準簡介
Aims to evaluate the reliability of non-hermetic, packaged solid state devices in humidity environments when surface condensation is likely. Normally performed on cavity packages (e.g., MQUADs, lidded ceramic pin grid arrays, etc.) as an alternative to JESD22-A101 or JESD22-A110.
標準備注
Supersedes EIA JESD 22 (07/2004)
本標準替代的舊標準
