NF ISO 15632:2006被替代

Microbeam Analysis - Instrumental Specification For Energy Dispersive X-ray Spectrometers With Semiconductor Detectors

出版：Association Francaise de Normalisation

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號： NF ISO 15632:2006

發(fā)布時間：2006/12/1 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：Association Francaise de Normalisation

標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：14

標(biāo)準(zhǔn)簡介

2006 [01/12/2006]2006 PR [01/05/2006]

標(biāo)準(zhǔn)備注

Indice de classement: X21-008 PR NF ISO 15632 May 2006. (05/2006)

替代本標(biāo)準(zhǔn)的新標(biāo)準(zhǔn)

NF ISO 15632:2012

等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

ISO 15632:2002 - Identical

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