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BIS IS 17172 : Part 23 : 2019現(xiàn)行

光學(xué)和光電學(xué) - 環(huán)境測(cè)試方法 - 第23部分：低溫、空氣溫度和干熱或濕熱組合的低壓 Optics and Photonics - ? Environmental Test Methods Part 23 Low Pressure Combined with Cold, Ambient Temperature and Dry or Damp Heat

出版：Bureau of Indian Standards

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基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： BIS IS 17172 : Part 23 : 2019
標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)別：Test Method
出版單位：Bureau of Indian Standards
標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：0