IEC 60749-13 Ed. 2.0現行

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 13: Salt atmosphere

出版：International Electrotechnical Committee

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基本信息

標準編號： IEC 60749-13 Ed. 2.0

發布時間：2018/2/15 0:00:00

標準類別：Standard

出版單位：International Electrotechnical Committee

標準頁數：32

標準簡介

Describes a salt atmosphere test that determines the resistance of semiconductor devices to corrosion.

本標準替代的舊標準

IEC 60749-13 Ed. 1.0

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