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BS EN 60512-6-2:2002現(xiàn)行

Connectors for electronic equipment. Tests and measurements. Dynamic stress tests . Test 6b. Bump

出版：British Standards Institution

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號： BS EN 60512-6-2:2002

發(fā)布時(shí)間：2002/6/5 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：British Standards Institution

標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：10

標(biāo)準(zhǔn)簡介

Assess the ability of components to withstand specified severities of bump.

標(biāo)準(zhǔn)備注

? British Standards Institution 2013

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

00/203601 DC : SEP 2000

等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

I.S. EN 60512-6-2:2002 - Identical

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