NEN EN IEC 60749-4:2017現(xiàn)行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 4: Damp Heat, Steady State, Highly Accelerated Stress Test (Hast)

出版：Nederlands Normalisatie Instituut

獲取原文如何獲取原文？問(wèn)客服獲取原文，即可享受本標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)變更提醒服務(wù)！

專(zhuān)家解讀視頻

基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： NEN EN IEC 60749-4:2017

標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)別：Standard

出版單位：Nederlands Normalisatie Instituut

標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：9

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

2017 [01/07/2017]2002 [01/09/2002]

標(biāo)準(zhǔn)備注

Supersedes NEN EN IEC 60749. (09/2011)

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

NEN EN IEC 60749-4:2002

等同采用的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

EN 60749-4:2017 - Identical

国产精品久久久在线观看_亚洲免费观看视频网站_国产盗摄视频一区二区三区_久久久国产一级 - 日本在线观看一区