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PN EN 60749-28 : 2017現(xiàn)行

SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 28: ELECTROSTATIC DISCHARGE (ESD) SENSITIVITY TESTING - CHARGED DEVICE MODEL (CDM) - DEVICE LEVEL

出版：Polish Committee for Standardization

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基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： PN EN 60749-28 : 2017
標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard
出版單位：Polish Committee for Standardization
標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：0
等同采用的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

EN 60749-28 : 2017 - Identical

IEC 60749-28 : 1ED 2017 - Identical