NEN EN IEC 60512-6-2:2002現(xiàn)行

Connectors For Electronic Equipment - Tests And Measurements - Part 6-2: Dynamic Stress Tests - Test 6B: Bump

出版：Nederlands Normalisatie Instituut

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號： NEN EN IEC 60512-6-2:2002

發(fā)布時間：2002/5/1 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：Nederlands Normalisatie Instituut

標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：9

標(biāo)準(zhǔn)簡介

2002 [01/05/2002]

等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

IEC 60512-6-2 Ed. 1.0 - Identical

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