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DS EN 62047-22:2014現(xiàn)行
Semiconductor Devices - Micro-Electromechanical Devices - Part 22: Electromechanical Tensile Test Method For Conductive Thin Films On Flexible Substrates
出版：Danish Standards
專家解讀視頻
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號： DS EN 62047-22:2014
發(fā)布時間：2014/11/20 0:00:00
標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard
出版單位：Danish Standards
標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：16
標(biāo)準(zhǔn)簡介
Defines a tensile test method to measure electromechanical properties of conductive thin micro-electromechanical systems (MEMS) materials bonded on non-conductive flexible substrates.
等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)
EN 62047-22:2014 - Identical
