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OVE/ONORM EN 60749-1:2004現行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 1: General

出版：Osterreichisches Normungsinstitut

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基本信息

標準編號： OVE/ONORM EN 60749-1:2004

發布時間：2004/1/1 0:00:00

標準類別：Standard

出版單位：Osterreichisches Normungsinstitut

標準頁數：10

標準簡介

2004 [01/01/2004]

等同采用的國際標準

IEC 60749-1 Ed. 1.0 - Identical

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