CEI EN 60749-9 Ed. 2 (2017)現行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 9: Permanence Of Marking

出版：Comitato Elettrotecnico Italiano

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基本信息

標準編號： CEI EN 60749-9 Ed. 2 (2017)

標準類別：Standard

出版單位：Comitato Elettrotecnico Italiano

標準頁數：12

標準簡介

2ED 2017 [01/10/2017]1ED 2004 [01/03/2004]

標準備注

Classificazione CEI 47-19 (04/2004) Supersedes CEI EN 60749. (05/2008) 1ED 2004 Edition is valid until 07-04-2020. (11/2017)

本標準替代的舊標準

CEI EN 60749-9 Ed. 1 (2004)

等同采用的國際標準

EN 60749-9:2017 - Identical

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