ASTM E986-04被替代

Standard Practice for Scanning Electron Microscope Beam Size Characterization

出版：American Society for Testing and Materials

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基本信息

標準編號： ASTM E986-04

發布時間：2004/7/1 0:00:00

標準類別：Standard

出版單位：American Society for Testing and Materials

標準頁數：3

標準簡介

CONTAINED IN VOL. 03.01, 2006Covers reproducible means by which the performance of a scanning electron microscope (SEM) may be characterized.

本標準替代的舊標準

ASTM E986-97

替代本標準的新標準

ASTM E986-04(2010)

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