KS L 1619:2003被替代

Test methods for measuring resistivity of electrically conductive ceramic thin films with four point probe method

出版：Korean Standards Association

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號： KS L 1619:2003

發(fā)布時(shí)間：2003/1/6 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：Korean Standards Association

標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：4

替代本標(biāo)準(zhǔn)的新標(biāo)準(zhǔn)

KS L 1619:2013

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