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DS EN 15991:2015現(xiàn)行
Testing Of Ceramic And Basic Materials - Direct Determination Of Mass Fractions Of Impurities In Powders And Granules Of Silicon Carbide By Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectrometry (Icp Oes) With Electrothermal Vaporisation (Etv)
出版：Danish Standards
專家解讀視頻
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號： DS EN 15991:2015
標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard
出版單位：Danish Standards
標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：27
標(biāo)準(zhǔn)簡介
2015 [07/01/2016]2011 [12/03/2011]
本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)
等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)
EN 15991:2015 - Identical
