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PN EN 62047-2:2006現(xiàn)行

Semiconductor Devices - Micro-electromechanical Devices - Part 2: Tensile Testing Method Of Thin Film Materials

出版：Polish Committee for Standardization

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基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： PN EN 62047-2:2006
發(fā)布時(shí)間：2006/11/28 0:00:00
標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard
出版單位：Polish Committee for Standardization
標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：37
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

2006 [28/11/2006]

等同采用的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

IEC 62047-2 Ed. 1.0 - Identical