CEI EN 62047-17 Ed. 1 (2016)現行
Semiconductor Devices - Micro-Electromechanical Devices - Part 17: Bulge Test Method For Measuring Mechanical Properties Of Thin Films
出版：Comitato Elettrotecnico Italiano
專家解讀視頻
基本信息
標準編號： CEI EN 62047-17 Ed. 1 (2016)
標準類別：Standard
出版單位：Comitato Elettrotecnico Italiano
標準頁數：34
標準簡介
1ED 2016 [01/01/2016]
標準備注
Classificazione CEI 47-127. (08/2017)
等同采用的國際標準
EN 62047-17:2015 - Identical
