CEI EN 60749-44 Ed. 1 (2017)現(xiàn)行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 44: Neutron Beam Irradiated Single Event Effect (See) Test Method For Semiconductor Devices
出版：Comitato Elettrotecnico Italiano
專家解讀視頻
基本信息
標準編號： CEI EN 60749-44 Ed. 1 (2017)
標準類別：Standard
出版單位：Comitato Elettrotecnico Italiano
標準頁數(shù)：28
標準簡介
1ED 2017 [01/06/2017]
標準備注
Classificazione CEI 47-139. (07/2017)
等同采用的國際標準
EN 60749-44:2016 - Identical
