CEI EN 62433-4 : 1ED 2017現(xiàn)行

EMC IC MODELLING - PART 4: MODELS OF INTEGRATED CIRCUITS FOR RF IMMUNITY BEHAVIOURAL SIMULATION - CONDUCTED IMMUNITY MODELLING (ICIM-CI)

出版：Comitato Elettrotecnico Italiano

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號： CEI EN 62433-4 : 1ED 2017

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：Comitato Elettrotecnico Italiano

標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：0

標(biāo)準(zhǔn)簡介

Defines a flow for deriving a macro-model to allow the simulation of the conducted immunity levels of an integrated circuit (IC).

等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

EN 62433-4 : 2016 - Identical

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