ISO/DIS 25498 : 60.00 (2018)被替代
MICROBEAM ANALYSIS - ANALYTICAL ELECTRON MICROSCOPY - SELECTED-AREA ELECTRON DIFFRACTION ANALYSIS USING A TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
出版：International Organization for Standardization
專家解讀視頻
基本信息
標準編號： ISO/DIS 25498 : 60.00 (2018)
標準類別：Standard
出版單位：International Organization for Standardization
標準頁數：0
標準簡介
Defines the method of selected area electron diffraction (SAED) analysis using a transmission electron microscope (TEM) to analyse thin crystalline specimens.
替代本標準的新標準
等同采用的國際標準
17/30343628 DC : 0 - Identical
